报告题目：欧波同基于SEM/FIB表征方案在半导体陶瓷材料分析中的应用 

报告摘要：

欧波同有限公司可提供基于赛默飞（原FEI）电子显微镜的多尺度、多模式显微分析解决方案，报告以半导体陶瓷材料为主，主要介绍现代前沿的电子显微检测和表征技术，包含从微米到纳米尺度的分辨能力，从高分辨成像到元素、结构、原位等多维度综合性表征方案。报告还介绍了基于人工智能数据化分析手段，电子显微镜获取显微图像，人工智能软件可自动统计孔隙、裂纹、颗粒度、晶型等关键结构的尺寸、面积和占比等一系列信息。

个人简历：

2005-2009 大连交通大学本科

2009-2012 大连理工大学硕士

2012-2015 天津三星电机 分析实验室SEM失效分析

2015至今 北京欧波同光学技术有限公司，从事SEM相关技术支持工作

从事电镜应用工作9年，擅长SEM在金属、半导体等行业的应用和分析，在原理、图像、分析数据解读上有较深的工作经验