报告题目： 陶瓷金属化界面高频电导率测量新技术

报告摘要：

陶瓷金属化工艺是电子陶瓷器件制造所必不可少的，金属化品质直接决定了器件性能。如果电子陶瓷器件工作在较高频段，那么趋肤效应的影响会使陶瓷金属化界面的电导率显著低于其理论的直流电导率。如何可靠、准确地测量陶瓷金属化界面在高频工作状态下的实际电导率，对于电子陶瓷器件的设计、工艺研究和交付验证具有重要意义。本报告介绍了一种基于谐振腔理论的高频电导率测量新技术，以及应用该种技术进行若干典型金属化表面测量的研究结果。

个人简历：

王皓吉，男，天津大学博士研究生，工作于天津大学先进陶瓷与加工技术教育部重点实验室。主要研究方向为高频电子陶瓷器件的设计和制造技术，发表SCI学术论文8篇，申请发明专利20余项，已授权2项。在学期间与导师林彬教授、隋天一副教授合作成立天津市哈德布莱特科技发展有限公司，任职总经理，将实验室先进技术进行产业化推广，2021年公司合并营收破千万。